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三坐標探測系統(tǒng)，高度創(chuàng)新的光機電設計，使得測頭系統(tǒng)能夠探測到X，Y和Z方向納米級的位移量，并保持非常低的重復性誤差和3D形狀誤差。
經過專業(yè)嚴謹設計和制造的全系列標準配置，能夠完成各種快速而準確的測量。
■ 技術先進
■ 操作準確可靠
■ 應用靈活性非常強，并具備杰出的用戶效能
■ 全面兼容各種測量機產品
■ 快速有效的互換特性
■ 根據生產需要，利用擴展模塊優(yōu)化測量系統(tǒng)
■ 穩(wěn)定的結構，高承載能力
■ 適應工業(yè)環(huán)境的優(yōu)異耐久性


HH-T 手動探測系統(tǒng) 關節(jié)式測座，可手動轉動到任何角度，內置觸發(fā)測頭，觸測力可調，是小型測量機的理想選擇。	HH-Mi 手動分度探測系統(tǒng) 可重復分度并整合高精度觸發(fā)測頭。可以在兩個方向上實現(xiàn)15° 分度，而不需要重新校準。	HH-A / HH-AS8 自動探測系統(tǒng) 高性能、高速、高可靠性自動測座，提供了5°和7.5° 兩種分度方式。AS8可以安裝在Z軸內部。

HH-A-H2.5 自動探測系統(tǒng) 具有長攜帶能力，大可攜帶750mm加長桿，支持觸發(fā)、掃描及激光測頭。2.5度的精度分度。	HP-S-X1 掃描探測系統(tǒng) 完善的系統(tǒng)配備，為通用測量任務提供多種選擇。包括手動、自動測座、模塊化測頭、更換架、探針、加長桿等。	HP-S-X3 掃描探測系統(tǒng) 緊湊、高性價比、高準確度的三維固定式掃描測頭，可配置長達360 mm的加長桿和探針組。

HP-S-X5 掃描探測系統(tǒng) 高承載、全三維、固定式掃描測頭，即使在攜帶*長加長桿的情況下也可保證達到很快的速度和很高的精度。	LSP-S2 掃描探測系統(tǒng) LSP-S2 始終提供高等級的精度，探針加長可達到800mm，是高精度完成深孔類特征的測量。	HP-C-VE 光學測頭 HP-C-VE能夠安裝在測量機上，實現(xiàn)了大尺寸部件上面微小特征的放大測量。

HP-L-10.6 激光掃描測頭功能完善的交鑰匙方案，通過快速點云采集，實現(xiàn)了與CAD 比較測量、自由曲面檢測以及逆向工程等任務。	Precitec LR 高精光學測頭可與HP-S-S2 配合使用，能夠適應任何類型的表面測量任務，光圈在90°±40°范圍方向可調。	HP-L-20.8 激光掃描測頭專用于關節(jié)臂測量機的掃描測頭。自動實現(xiàn)光強調整，為復雜形狀和各種材料的掃描提供了準確可靠方案。