Q1.我正在一塊平板上校準我的測量儀器。現在我想測量一個小直徑的曲面樣品。在不進行任何進一步校準的情況下，是否可以繼續？
A: 不行，在平板上的校準會在曲面上引起系統上的測量誤差。這意味著測量值將過大。這是因為儀器對樣品（這里是曲面物體）的測量信號進行了評估，但是以平面樣品進行的評估。
Q2. 為什么我的數據傳輸無法進行？
A: 有些原因可能是：我是否選擇了具有相關管理員權限的正確驅動單元？在電腦上的軟件中選擇了正確的界面嗎？（另請參閱設備管理器）

Q3. 為什么雙方會得到不同的測量結果？原因是什么？
A: 計量器具的精度由校準片保證。校準須在真實、無涂層的樣品上進行。此外，須注意在相同的測量位置進行測量。為了得到一個有效的平均值，進行足夠多次的測量也是很重要的。
Q4. 相敏渦流法：可以測量哪些涂層-基材組合？
A: 在這里可以有各種不同組合的測量：用相敏渦流法可以測量鐵磁性金屬上的非鐵磁金屬層，例如：鋼上的鋅。也可以測量非導電塑料上的非鐵磁金屬層，例如：非導電材料上的銅。另一個可用的應用是銅基體上的鎳層，這是非鐵磁金屬上的鐵磁金屬層。

Q5. 磁感應法：能測量哪些涂層-基材組合？
A: 磁感應法可測量可磁化基體上的非可磁化涂覆層，例如：鐵上的鋅層或鐵上的漆層。
Q6. 如何驗證干膜測厚儀測試的校準效果？
A: 通過把校準箔放在樣品基材上進行測量來檢查校準效果。這個測量位置須要與你之后要測量的位置相同。Fischer隨機配備的基材校準板并不適用于此目的。

Q7. 振幅敏感渦流法：可以測量哪些涂層-基材組合？
A: 振幅敏感渦流法可測量導電基材和非磁性基材上的非導電涂覆層，例如：鋁上的陽極氧化涂層、銅上的油漆層、鋁上的油漆層和鈦上的陶瓷層。

Q8. 用相敏渦流探頭和磁感應探頭測量鎳鍍層需要考慮哪些因素？
A: 必須在已確定涂層厚度的相關零件上進行校準。鎳鍍層的磁化能力可能存在很大差異，即被測零件的磁化能力與校準零件的磁化能力可能存在很大差異。這可能導致測量誤差。特別是在進貨檢驗領域，可能會出現問題。

Q9:哪些因素在FISCHER 干膜測厚儀的精確測量中起作用？
A: FISCHER 干膜測厚儀的測量精度取決于涂層厚度、表面狀況、所用探頭等因素。理想條件下的精度和重復性詳情可從探頭技術資料表中獲取。

Q10. 測量裝置或Fischer程序顯示未知錯誤信息。我該怎么辦？
A: 首先，檢查操作手冊，看看是否描述了相關錯誤及其糾正方法。如沒有，請向負責的Fischer服務團隊發送電子郵件，詳細說明序列號、測試儀器的確切名稱、探頭、Fischer程序的版本號、錯誤號（錯誤代碼）、錯誤消息的確切文字以及導致錯誤的情況。

Q11. 我該如何操作才能把數據傳輸到我的電腦里？
A: 將數據線連接到計算機和測試裝置。在計算機上安裝相應的驅動程序軟件。在您使用的統計程序中，選擇正確的儀器連接接口。要分開測量值組，請在測試裝置中設置組分隔符。

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由Helmut Fischer博士創立，遵循“您可信賴的知識、能力和經驗”這一基本原則，Helmut Fischer品牌已經在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域不斷發展創新性的測量技術，至今已有60多年。產品線涵蓋了測量和分析儀器。無論是磁感應或是電渦流方法、Beta射線法、庫倫電解法、微硬度法或X射線熒光法，Fischer都擁有相適應的成熟技術。使用合適的測量方法，可以獲得準確的測量結果以及非常好的重復精度。